400-875-1717轉816
當前位置：首頁 > 產品中心 > 納米粒度及Zeta電位分析儀 > BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀 > BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀廠家
詳細介紹
產品介紹
BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
基本性能指標
粒徑檢測
粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
最小樣品量 | 3 μL |
檢測角度 | 90 ° + 11.2° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta電位測試
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | ＞±20 μ.cm/V.s |
電導率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – ＞120 μm |
分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
測試能力 | 均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量 |
趨勢測試
| 模式 | 時間和溫度 |
系統參數
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
標準激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關器 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態線性范圍 |
檢測器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
光強控制 | 0.0001% - 100%，手動或者自動 |
檢測參數
動態光散射
●流體力學尺寸 Dh
●分布系數 PD.I
●擴散系數 D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
●計算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學信息G*，G‘，G“，η*，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
趨勢測試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試
靜態光散射
● 絕對分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數A2
選配件
● 動靜態流動模式
BeNano動靜態流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態光散射信號和靜態光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
● BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環境具有強烈的依賴性，尤其是環境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用，內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風險。
● BeScan穩定性分析儀
BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化，并給出不穩定性指數IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結構變化，從而極大的節約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
● 0°光電模塊
0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測試。
歡迎咨詢由Zeta電位儀廠家供應的Zeta電位儀！
產品咨詢
歡迎來到丹東百特儀器有限公司網站！
